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Presi制樣設備
簡易型BXFM
面積法晶粒度
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
自動聚焦裝置
即時景深擴展（EFI）
普及型連續變倍SZ系列
顆粒分析
清潔度分析系統CIX100
DSX1000數碼顯微鏡
輔助聚焦裝置
奧林巴斯測量顯微鏡
DP74
DP27
偏光顯微鏡BX53P
孔隙率
STREAM軟件特點
Prior程序控制電動載物臺
焊接
PCB電鍍分布能力
鑄鐵
圖譜對照
OLS5100激光共焦顯微鏡
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
截點法晶粒度
夾雜物最惡劣視場法
DP22
光源以及配件
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
奧林巴斯清潔度分析系統
Linkam顯微鏡熱臺
汽車行業質量控制
研究型連續變倍SZX系列
層厚度測量
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